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計測用CTシステム  MCT225

真空・産業機器

絶対精度での内部構造計測を実現

50年のCMM技術と25年のX線技術を結集した、計測用CTシステムです。最新の産業標準に準拠した様々なサイズや材質のサンプルに対応。参照測定が不要で、内部・外部寸法を非破壊で効率的な計測が行えます。


用途

・精密プラスチック部品、小型鋳物、複雑なメカニズム、内部部品、CAD対部品の比較などの評価と測定
・詳細な故障解析
・高度な材料研究および生物学的構造の解析
・モデルのデジタルアーカイブ
・組立時の問題解決


主な特長

・測定精度9+L/50μm(校正済み、VDI/VDE 2630準拠)
・フルスクリーン画像用と制御ソフトウェア用のデュアルモニタ
・開放管反射型225kVマイクロフォーカスX線源
・メンテナンスが容易な開放型X線管
・高精度マニピュレータ搭載
・防護キャビネット(特別な予防策は不要、放射線被曝を抑制)
・サンプル高さ450mmまで対応


導入効果

・一つのシステムに統合された柔軟性: X線ですばやい目視検査、CTで綿密な解析
・高速データ取得、高品質画像
・対話型ジョイスティックナビゲーションで迅速な操作
・高解像度のデジタルイメージングおよび画像処理
・特別な予防策やフィルムバッジが不要な安全システム
・業界標準の後処理アプリケーションに適合

取り扱い商品の詳細情報

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